A 質量分析装置 一式 B ピコ秒過渡吸収特性測定装置 一式 C 磁気光学測定用無冷媒超伝導マグネットシステム 一式 D 光干渉式膜圧測定装置 一式 E 有機ELリーク検査装置 一式 F 多目的印刷デバイス作製装置 一式
次のとおり一般競争入札に付します。 平成 25 年8月6日 国立大学法人九州大学総長 有川 節夫 ◎調達機関番号 415 ◎所在地番号 40 ○第 50 号 ...
次のとおり一般競争入札に付します。 平成 25 年8月6日 国立大学法人九州大学総長 有川 節夫 ◎調達機関番号 415 ◎所在地番号 40 ○第 50 号 ...