直流抵抗測定機能付き汎用物性評価システム一式
落札者等の公示
次のとおり落札者等について公示します。
令和6年 10 月1日
［掲載順序］
（1）品目分類番号 （2）調達件名及び数量 （3）調達方法 （4）契約方式 （5）落札決定日（随意契約の場合は契約日） （6）落札者（随意契約の場合は契約者）の氏名及び住所 （7）落札価格（随意契約の場合は契約価格） （8）入札公告日又は公示日 （9...
検索結果: 6件
1 - 6件を表示
Ａ直流抵抗測定機能付き汎用物性評価システム一式、Ｂ薄膜構造解析用X線回折装置一式
入札公告
次のとおり一般競争入札に付します。
令和6年6月3日
国立大学法人東京大学総長 藤井 輝夫
◎調達機関番号 415 ◎所在地番号 13
○第6号
1 調達内容
(1) 品目分類番号 24
(2) 購入等件名及び数量
(3) 直流抵抗測定機能付き汎用物性評価システム 一式
(4...
磁化率測定機能付き汎用物性評価システム 一式
平成 ２７ 年１月 １３ 日 ［掲載順序］ （Ａ１）品目分類番号 （Ａ２）調達件名及び数量 （Ａ３）調達方法 （ Ａ４）契約方式 （Ａ５）落札決定日（随意契約の場合は契約日） （Ａ６） 落札者（随意契約の場合は契約者）の氏名及び住所 （Ａ７）落札価格（随意 契...
Ａ 磁化率測定機能付き汎用物性評価システム 一式 Ｂ 東京大学駒場?キャンパス１号館１１２教室他視聴覚設備更新 一式 Ｃ 電気化学評価システム 二式 Ｄ 映像・音響システム 一式
次のとおり一般競争入札に付します。 平成 ２６ 年９月 １６ 日 国立大学法人東京大学総長 濱田 純一 ◎調達機関番号 ４１５ ◎所在地番号 １３ ○第 ３３ 号 ...
汎用物性評価システム 一式
平成 ２５ 年３月 １１ 日 ［掲載順序］ （Ａ１）品目分類番号 （Ａ２）調達件名及び数量 （Ａ３）調達方法 （ Ａ４）契約方式 （Ａ５）落札決定日（随意契約の場合は契約日） （Ａ６） 落札者（随意契約の場合は契約者）の氏名及び住所 （Ａ７）落札価格（随意 契...
Ａ 高出力フェムト秒レーザー 一式 Ｂ ＲＦスパッタリング装置 一式 Ｃ 耐久性評価装置 一式 Ｄ 汎用物性評価システム 一式 Ｅ アコースティックリキッドハンドラー 一式 Ｆ 共焦点レーザースキャン顕微鏡 一式 Ｇ 共焦点レーザー顕微鏡システム 一式 Ｈ
次のとおり一般競争入札に付します。 平成 ２４ 年 １１ 月 １６ 日 国立大学法人東京大学総長 濱田 純一 ◎調達機関番号 ４１５ ◎所在地番号 １３ ○第 ５９ 号 ...