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Ａ　走査型プローブ顕微鏡　一式（走査型プローブ顕微鏡、超微小領域硬度測定装置）　Ｂ　電界放射形走査電子顕微鏡　一式（電界放射形走査電子顕微鏡、組成検出器・結晶方位検出器（ＥＤＳ・ＷＤＳ・ＥＢＳＤ）システム、イオンポリッシャー装置、プラズマクリーナー装置）　

種別: 入札公告（物品・サービス一般） 調達機関: 独立行政法人国立高等専門学校機構 日付: 2013-06-26
機関詳細: 契約担当役　独立行政法人国立高等専門学校機構　宇部工業高等専門学校事務部長　前川　幸枝

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　次のとおり一般競争入札に付します。　　　　　　　　　　　　　　　　　 　平成　２５　年６月　２６　日　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　契約担当役　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　独立行政法人国立高等専門学校機構　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　宇部工業高等専門学校事務部長　前川　幸枝...