検索結果: 2件

1 - 2件を表示

高度アシスト回路制御ＳＲＡＭ測定用テストシステム　一式

種別: 落札者等の公示 調達機関: 国立大学法人 日付: 2010-03-01
機関詳細: 国立大学法人東京大学総長　濱田　純一　（東京都文京区本郷７―３―１）

　　　　　　　　　　　　　　　 　　平成　２２　年３月１日　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 ［掲載順序］　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　（Ａ１）品目分類番号　（Ａ２）調達件名及び数量　（Ａ３）調達方法　（ Ａ４）契約方式　（Ａ５）落札決定日（随意契約の場合は契約日）　（Ａ６） 落札者（随意契約の場合は契約者）の氏名及び住所　（Ａ７）落札価格（随意 契...

Ａ　高度アシスト回路制御ＳＲＡＭ測定用テストシステム　一式　Ｂ　動物用高圧蒸気滅菌装置　二式　Ｃ　実験廃液分析システム　一式（高速液体クロマトグラフ二式、液体クロマトグラフ質量分析計一式、誘導結合プラズマ質量分析装置一式）　Ｄ　表面形状観察分析装置　一式　

種別: 入札公告（物品・サービス一般） 調達機関: 国立大学法人 日付: 2009-09-01
機関詳細: 国立大学法人東京大学総長　濱田　純一

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　次のとおり一般競争入札に付します。　　　　　　　　　　　　　　　　　 　平成　２１　年９月１日　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　国立大学法人東京大学総長　濱田　純一　　　　　　　　　　　　　　 ◎調達機関番号　４１５　◎所在地番号　１３　　　　　　　　　　　　　　 ○第　４９　号　　　　　　　　　　　　　　...