集束イオンビーム3次元内部構造遠隔観察システム一式
基本情報
- 調達機関および所在地
- 国立大学法人 (新潟県)
- 公示日
- 2021年04月06日
- 公示の種類
- 資料提供招請に関する公表
- 機関名詳細および所在地詳細
- 国立大学法人長岡技術科学大学 事務局長 秋山 和男
詳細情報
資料提供招請に関する公表
次のとおり物品の導入を予定していますので、当該導入に関して資料等の提供を招請します。
令和3年4月6日 (2021年4月6日)
国立大学法人長岡技術科学大学
事務局長 秋山 和男
◎調達機関番号 415 ◎所在地番号 15
○第1号
1 調達内容
(1) 品目分類番号 24
(2) 導入計画物品及び数量 集束イオンビーム3次元内部構造遠隔観察システム 一式
(3) 調達方法 購入等
(4) 導入予定時期 令和3年度9月以降
(5) 調達に必要とされる基本的な要求要件 本装置は、集束イオンビームを搭載した高分解能走査型電子顕微鏡に元素分析・結晶方位解析とそれらのマッピングを行える機能を有するとともに遠隔操作できるシステムから構成される。
(6) 集束イオンビームの要求要件
(7) ガリウムイオン源を有し、最高加速電圧が25kV以上であること。
(8) デポジションカートリッジとして、タングステン、カーボンを有すること。
(9) 加工場所をリアルタイムでモニターできること。
(10) 高分解能走査型電子顕微鏡本体の要求要件
(11) 電界放出形電子銃を有し、最高加速電圧が25kV以上であること。
(12) 二次電子検出器、反射電子検出器を装備していること。
(13) 電子線の入射角度は水平面に対して90度であること。
(14) 元素分析・結晶方位解析及びそれらのマッピング機能の要求要件
(15) エネルギー分散特性X線分光(EDX)による元素定量分析機能を有すること。
(16) シリコン・ドリフト形の検出素子を有し、素子面積は170平方ミリメートル以上であること。
(17) 後方散乱電子回折(EBSD)を利用した結晶方位解析及び相同定機能を有すること。
(18) EBSD用検出器としてCMOSカメラタイプを採用していること。
(19) EDX及びEBSDを同時使用したマッピング像を得られること。
(20) 遠隔操作システムの要求要件
(21) PCの画面をテレビ会議システムで発信できる機能を有していること。
(22) 本装置を遠隔操作できる機能・システムを有すること。
2 資料及びコメントの提供方法 上記1?の物品に関する一般的な参考資料及び同?の要求要件等に関するコメント並びに提供可能なライブラリーに関する資料等の提供を招請する。
(1) 資料等の提供期限 令和3年5月10日 (2021年5月10日)15時00分(郵送の場合は必着のこと。)
(2) 提供先 〒940―2188新潟県長岡市上富岡町1603―1 📍 国立大学法人長岡技術科学大学財務課 専門員 遠藤 直樹 電話0258―47―9211
3 説明書の交付 本公表に基づき応募する供給者に対して導入説明書を交付する。
(1) 交付期間 令和3年4月6日 (2021年4月6日)から令和3年4月26日 (2021年4月26日)まで。
(2) 交付場所 上記2?に同じ。
4 その他 この導入計画の詳細は導入説明書による。なお、本公表内容は予定であり、変更することがあり得る。
次のとおり物品の導入を予定していますので、当該導入に関して資料等の提供を招請します。
令和3年4月6日 (2021年4月6日)
国立大学法人長岡技術科学大学
事務局長 秋山 和男
◎調達機関番号 415 ◎所在地番号 15
○第1号
1 調達内容
(1) 品目分類番号 24
(2) 導入計画物品及び数量 集束イオンビーム3次元内部構造遠隔観察システム 一式
(3) 調達方法 購入等
(4) 導入予定時期 令和3年度9月以降
(5) 調達に必要とされる基本的な要求要件 本装置は、集束イオンビームを搭載した高分解能走査型電子顕微鏡に元素分析・結晶方位解析とそれらのマッピングを行える機能を有するとともに遠隔操作できるシステムから構成される。
(6) 集束イオンビームの要求要件
(7) ガリウムイオン源を有し、最高加速電圧が25kV以上であること。
(8) デポジションカートリッジとして、タングステン、カーボンを有すること。
(9) 加工場所をリアルタイムでモニターできること。
(10) 高分解能走査型電子顕微鏡本体の要求要件
(11) 電界放出形電子銃を有し、最高加速電圧が25kV以上であること。
(12) 二次電子検出器、反射電子検出器を装備していること。
(13) 電子線の入射角度は水平面に対して90度であること。
(14) 元素分析・結晶方位解析及びそれらのマッピング機能の要求要件
(15) エネルギー分散特性X線分光(EDX)による元素定量分析機能を有すること。
(16) シリコン・ドリフト形の検出素子を有し、素子面積は170平方ミリメートル以上であること。
(17) 後方散乱電子回折(EBSD)を利用した結晶方位解析及び相同定機能を有すること。
(18) EBSD用検出器としてCMOSカメラタイプを採用していること。
(19) EDX及びEBSDを同時使用したマッピング像を得られること。
(20) 遠隔操作システムの要求要件
(21) PCの画面をテレビ会議システムで発信できる機能を有していること。
(22) 本装置を遠隔操作できる機能・システムを有すること。
2 資料及びコメントの提供方法 上記1?の物品に関する一般的な参考資料及び同?の要求要件等に関するコメント並びに提供可能なライブラリーに関する資料等の提供を招請する。
(1) 資料等の提供期限 令和3年5月10日 (2021年5月10日)15時00分(郵送の場合は必着のこと。)
(2) 提供先 〒940―2188新潟県長岡市上富岡町1603―1 📍 国立大学法人長岡技術科学大学財務課 専門員 遠藤 直樹 電話0258―47―9211
3 説明書の交付 本公表に基づき応募する供給者に対して導入説明書を交付する。
(1) 交付期間 令和3年4月6日 (2021年4月6日)から令和3年4月26日 (2021年4月26日)まで。
(2) 交付場所 上記2?に同じ。
4 その他 この導入計画の詳細は導入説明書による。なお、本公表内容は予定であり、変更することがあり得る。