資料提供招請に関する公表
　次のとおり物品の導入を予定していますので、当該導入に関して資料等の提供を招請します。
　平成　31　年3月　18　日
　国立大学法人島根大学長　服部　泰直　
◎調達機関番号　415　◎所在地番号　32
○第4号
1　調達内容
　(1)　品目分類番号　24
　(2)　導入計画物品及び数量　集束イオンビーム走査型電子顕微鏡　一式
　(3)　調達方法　購入等
　(4)　導入予定時期　平成31年度3月以降
　(5)　調達に必要とされる基本的な要求要件　本装置は、高分解能走査型電子顕微鏡に元素分析・結晶方位解析とそれらのマッピング機能及び超精密試料加工・観察リンクシステムを付加して構成される。
　(6)　高分解能走査型電子顕微鏡本体の要求要件
　(7)　電界放射型電子銃を有し、最高加速電圧が25kV以上であること。
　(8)　高真空ドライ排気機構を有すること。
　(9)　コンピュータ制御による光軸自動調整機能を有すること。
　(10)　二次電子像及び反射電子像が得られ、二次電子像においては1nm以下の像分解能を有すること。
　(11)　元素分析・結晶方位解析及びそれらのマッピング機能の要求要件
　(12)　エネルギー分散特性X線分光（EDX）による元素定量分析機能を有すること。
　(13)　試料ドリフト補正機能を有すること。
　(14)　後方散乱電子回折（EBSD）を利用した結晶方位解析及び相同定機能を有すること。
　(15)　EBSD用検出器としてCMOS型検出器を採用していること。
　(16)　EDX及びEBSDを同時使用したマッピング像を得られること。
　(17)　超精密試料加工・観察リンクシステムの要求要件
　(18)　集束イオンビームによる加工が可能であること。
　(19)　コンピュータ制御によるナノスケールのパターン加工が可能であること。
　(20)　二次電子像、反射電子像、元素マップ及び結晶方位マップを用いた連続切削画像を取得でき、50×50×50μ?以上の測定領域を確保することが可能であること。
　(21)　加工による試料損傷を抑制または損傷部を除去する機能を有すること。
　(22)　加工前後及び加工中の顕微モニターが可能であること。
　(23)　加工された微小試料を的確かつ容易に搬送する機能を有すること。
2　資料及びコメントの提供方法　上記1?の物品に関する一般的な参考資料及び同?の要求要件等に関するコメント並びに提供可能なライブラリーに関する資料等の提供を招請する。
　(1)　資料等の提供期限　平成31年4月18日 (2019年4月18日)17時00分（郵送の場合は必着のこと。）
　(2)　提供先　〒690―8504松江市西川津町1060 📍　国立大学法人島根大学財務部経理・調達課　森山　洋　電話0852―32―6028
3　説明書の交付　本公表に基づき応募する供給者に対して導入説明書を交付する。
　(1)　交付期間　平成31年3月18日 (2019年3月18日)から平成31年4月18日 (2019年4月18日)まで。
　(2)　交付場所　上記2?に同じ。
4　説明会の開催　本公表に基づく導入説明会を開催する。
　(1)　開催日時　平成31年3月25日 (2019年3月25日)13時00分
　(2)　開催場所　島根大学本部棟1階第一会議室
5　その他　この導入計画の詳細は導入説明書による。なお、本公表内容は予定であり、変更することがあり得る。