次のとおり物品の導入を予定していますので、当該導入に関して資料等の提 供を招請します。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　平成　１５　年４月　１６　日　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　山梨大学事務局長　田丸　憲二　　　　　　　　　　　　　　 ◎調達機関番号　０１６　◎所在地番号　１９　　　　　　　　　　　　　　 ○第　１５　号　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 １　調達内容　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　（１）　品目分類番号　２４　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　（２）　導入計画物品及び数量　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　燃料電池材料製造・評価・分析システム　一式　　　　　　　　　　　 　（３）　調達方法　購入等　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　（４）　導入予定時期　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　平成１５年度第４・四半期以降　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　（５）　調達に必要とされる基本的な要求要件　　　　　　　　　　　　　 　　Ａ　触媒製造・評価システム一式として、（Ａ１）触媒材料を高分解能観 察・分析する走査透過電子顕微鏡装置。（Ａ２）触媒材料表面や断面を高分解 能観察・分析する走査型電子顕微鏡。（Ａ３）走査透過電子顕微鏡および走査 型電子顕微鏡観察用に触媒試料を薄片加工するイオンビーム加工観察装置。（ Ａ４）触媒試料の細孔分布を水銀圧入法により測定するポロシメータ。（Ａ５ ）触媒及び触媒担体の粒度分布を測定するレーザー回折式粒度分布測定装置。 （Ａ６）高解像度カラーＣＣＤカメラを搭載し、材料表面形状をカラー３Ｄ表 示が可能なレーザー顕微鏡。（Ａ７）均質な触媒微粒子を作成するためのスプ レードライヤー。（Ａ８）パルス状にスプレーコートすることにより均質な微 粒子による薄膜（最低３５０Åのコーティング）形成が可能なパルススプレー コート。（Ａ９）電気化学測定した試料を外気に触れることなく、１５分以内 に急速排気し、ＸＰＳ測定チャンバーに搬入できるＸＰＳ／電気化学相互測定 処理装置。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　Ｂ　電解質製造・評価システム一式として、（Ａ１）加圧水蒸気下で、高 分子電解質の水分吸収量と導電率の変化を同時に自動測定できる電解質評価装 置。（Ａ２）高圧グラジェントの液体クロマトグラフにより分離した試料を質 量分析計により定性・定量分析を行うＬＣ―ＭＳ。（Ａ３）ＴＯＣレベルが常 に５ｐｐｂ以下の安定した水質を供給できる純粋製造装置。　　　　　　　　 　　Ｃ　半電池性能評価システム一式として、電圧、電流を任意に設定して電 気化学測定を行うポテンショスタット／ガルバノスタット。　　　　　　　　 　　Ｄ　材料機能・構造分析システム一式として、（Ａ１）電解液中で電気化 学反応中の電極表面を原子スケールで観察できる電気化学走査トンネル顕微鏡 。（Ａ２）電解液中で電気化学反応中の電極表面吸着物を高速・高感度検出で きるフーリエ変換赤外分光装置。（Ａ３）材料の表面構造を容易に観察できる 小型電子顕微鏡。（Ａ４）アルゴンイオンレーザ光源を有し、可視光から近紫 外光までの測定が可能なレーザーラマン分光計。（Ａ５）触媒材料の結晶構造 を測定するための水平ゴニオメータを搭載したＸＲＤ。（Ａ６）冷却または過 熱しながら樹脂試料のせん断流を顕微鏡観察できる装置。（Ａ７）熱硬化性樹 脂の粘度と硬化反応速度を測定できるキュラストメーター。（Ａ８）ガスクロ マトグラムによって分離された分子の質量分析を行うことができるＧＣ―ＭＳ 。（Ａ９）熱分解装置を付属したガスクロマトグラフ。　　　　　　　　　　 　　Ｅ　燃料精製触媒製造・評価システム一式として、（Ａ１）熱重量示差熱 分析装置（ＴＧ／ＤＴＡ）から発生するガス成分を分析する四重極質量分析計 。（Ａ２）触媒粒子表面積をＢＥＴ吸着法により測定するＢＥＴ表面積測定装 置。（Ａ３）溶液試料を高周波誘導結合プラズマによりイオン化して、四重極 質量計で定性・定量分析を行うＩＣＰ―ＭＳ。（Ａ４）触媒反応ガス中の一酸 化炭素、酸素、二酸化炭素、水素を高感度・高速測定できるマイクロガスクロ マトグラフ。（Ａ５）化学吸着法により担体への金属触媒分散度を測定する化 学吸着測定装置。（Ａ６）熱伝導度型検出器による昇温脱離、化学吸着法によ る触媒金属分散度、一点式ＢＥＴ法による表面積測定ができる触媒分析装置。 （Ａ７）試料の比表面積あるいは細孔分布を個別・同時に測定できる自動比表 面積細孔分布。（Ａ８）清浄雰囲気での表面観察をするためのクラス１０００ の組み立て式クリーンルーム。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　Ｆ　ＭＥＡ製造システム一式として、（Ａ１）触媒インクを電解質膜や電 極基材に一定厚さで自動塗布するスクリーン印刷機。（Ａ２）温度、圧力、保 持時間を制御しながらホットプレスを行い膜電極接合体を作成できるプログラ ムホットプレス。（Ａ３）ジェット流によって、試料を高圧乳化、分散、紛糾 、または混練ができるジェットミル。（Ａ４）プログラム温度調節が可能で、 高温で合金触媒を調製できるスーパーカンタル炉。（Ａ５）高周波加熱により 高融点の合金触媒試料を作成できる高周波誘導炉。　　　　　　　　　　　　 ２　資料及びコメントの提供方法　上記１（２）の物品に関する一般的な参考 資料及び同（５）の要求要件等に関するコメント並びに提供可能なライブラリ ーに関する資料等の提供を招請する。　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　（１）　資料等の提供期限　平成１５年５月１９日 (2003年5月19日)１７時００分（郵送の場 合は必着のこと。）　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　（２）　提供先　〒４００―８５１０　甲府市武田４―４―３７　山梨大学 経理部契約室専門職員　野澤　　仁　電話０５５―２２０―８７１１　　　　 ３　説明書の交付　本公表に基づき応募する供給者に対して導入説明書を交付 する。　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　（１）　交付期間　平成１５年４月１６日 (2003年4月16日)から平成１５年５月１９日 (2003年5月19日)まで。 　（２）　交付場所　上記２（２）に同じ。　　　　　　　　　　　　　　　 ４　説明会の開催　本公表に基づく導入説明会を開催する。　　　　　　　　 　（１）　開催日時　平成１５年４月１８日 (2003年4月18日)１６時００分　　　　　　　　　 　（２）　開催場所　山梨大学事務局第二会議室　　　　　　　　　　　　　 ５　その他　この導入計画の詳細は導入説明書による。なお、本公表内容は予 定であり、変更することがあり得る。